Kompetenzbereiche

Visualisierung:

  • Hochauflösende Bilder (32.000 x 32.000)
  • Detailansichten von Oberflächen bis zu nanoskaliger Strukturen (1.000.000-fache Vergrößerung)
  • Auswertung der Topographie von Materialproben
  • Detektion von Rauigkeiten und Verunreinigungen
  • Umfassende Schadensanalyse und Fehleridentifikation

Messen:

  • Präzise Messungen bei höchster Auflösung und maximaler Vergrößerung
  • Bestimmen von Materialphasen
  • Messen unter Normaldruck und unter Hochvakuum

Analyse:

  • Untersuchung metallischer, mineralischer und biologischer Proben
  • Analyse chemischer Stoffzusammensetzungen (EDX, WDX Analyse)
  • Untersuchung von Beschichtungsfehlern
  • Bestimmung von Materialcharakteristika
  • Darstellung von Materialkontrasten
  • Analyse nichtvakuumstabiler Proben im druckvariablen Modus

 

360° Blick ins Labor
Jetzt virtuell umschauen

Forschungs- und Kooperationsgebiete

  • Unterstützung bei der Qualitätssicherung, wenn firmeneigene Mess- und Prüfverfahren ausgelastet oder nicht verfügbar sind
  • Beratung und Dienstleistung in den oben genannten Kompetenzbereichen
  • Gemeinsame Beantragung und Durchführung von nationalen und internationalen industrie- und anwendungsnahen Forschungsprojekten mit Dualen Partnern und Firmenpartnern sowie assoziierten Instituten und anderen Forschungseinrichtungen

Lehrgebiete

  • Durchführung von Laborveranstaltungen im Rahmen verschiedener Vorlesungen
  • Vergabe von Studien- und Projektarbeiten

Ausstattung

  • Rasterelektronenmikroskop (REM) Sigma VP, Carl Zeiss Microscopy GmbH
  • Detektoren:
    • SE
    • SE-VP
    • In-Lens
    • BSD
    • EDX
    • WDX
  • ATLAS System zur hochaufgelösten Rasterelektronenmikroskopie, Carl Zeiss Microscopy GmbH
  • Zug-, Druck-, Biege-Einrichtung zur Untersuchung von Proben in belasteten Zuständen
  • Temperiereinrichtung zur Analyse von Proben von minus 20 bis plus 100 °C
  • Auswertesoftware REM, Carl Zeiss Microscopy GmbH
  • Auswertesoftware EDX, WDX, BrukerNano Analytics GmbH